WORKSHOP CAS INTI - IEEE




WORKSHOP CAS INTI-IEEE Argentina 2017


Sesión Académica: por la mañana.
Sesión de Transferencia Industrial: por la tarde.

Lugar: INTI - Instituto Nacional de Tecnología Industrial
Av. General Paz 5445 - Edificio 1 - Auditorio
Fecha: 28/11/2017


Programa

8:00 a 8:45 hs Acreditación y recepción

8:45 a 9:00 hs Apertura - 60 años de INTI
Autoridad de INTI a confirmar

9:00 a 9:45 hs Free Space Antenna Factor Computation Using Time
Domain Gating and Deconvolution Filter for Site Validation
of Fully Anechoic Rooms (En inglés - sin traducción)
Anoop Adhyapak- ETS-Lindgren

9:45 a 10:30 hs A Brief Overview on Chamber Validation Techniques and
Components for Compliance Testing per Various EMC
Standards (En inglés - sin traducción)
Anoop Adhyapak – ETS-Lindgren

10:30 a 10:45 hs Pausa para café

10:45 a 11:45 hs The future of Immunity Testing (En inglés - sin traducción)
Mike Alferman- Amplifier Research

11:45 a 12:30 hs Radio Link Power Density And Antenna Factor
Valentino Trainotti. IEEE Life Fellow. Disertante distinguido del
IEEE

12:30 a 12:50 hs Criterios de Diseño de Celdas de Medición de Materiales
para determinar la Permitividad Eléctrica y la
Permeabilidad Magnética en Microondas.
Inga Rittner Technische Universität Hamburg (TUHH) y W.G.
Fano UBA. Facultad de Ingenieria. Laboratorio de Radiación
Electromagnética

12:50 a 13:50 hs Almuerzo

13:50 a 14:10 hs Protección de equipamiento sensible a Emisiones
Conducidas debidas a Fuentes Naturales (RAYOS)
Julio Zola. UBA. FIUBA. Laboratorio de Circuitos Electrónicos

14:10 a 14:30 hs Medición de Efectividad de un Blindaje de un
METAMATERIAL. Boggi. UBA. FIUBA.

14:30 a 14:45 h Pausa para café

14:45 a 15:05 hs Diseño de equipos seguros - Diferentes aspectos
Ing. Andrea Méndez e Ing. Silvia Díaz Monnier - INTI

15:05 a 15:25 hs Análisis de Riesgos
Ing. Andrea Méndez e Ing. Silvia Díaz Monnier - INTI

15:25 a 15:55 hs Verificación y Validación de Software en Campo Regulado
Ing. Gustavo Alessandrini - INTI

15:55 a 16:15 hs Asistencia Técnica en Compatibilidad Electromagnética
Ing. Luciano Blas - INTI

16:15 a 16:45 hs Panel con los fabricantes nacionales que adecuaron sus
diseños a la normativa vigente

16:45 a 16:50 hs Cierre de la jornada

16:50 a 17:00 hs Traslado a los laboratorios de EMC de INTI (Opcional)

17:00 a 18:00 hs Visita a los Laboratorios de EMC de INTI (Opcional)
Presentaciones de Cámara Semianecoica y Scanner de campo
cercano para predicción de emisión radiada de partes y
componentes de un diseño electrónico.

18:00 hs Fin del evento


Auspician: ETS Lindgren.   Amplifier Research


Organizan:

Instituto Argentino de Tecnologia Industrial INTI

IEEE Capitulo de EMC & AP Argentina

 




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